JIS C2162:2010

Test method of long-term reliability of gate insulator for SiC devices at high temperature

NORM herausgegeben am 23.3.2010

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: JIS C2162:2010
Ausgabedatum normen: 23.3.2010
Zahl der Seiten: 9
Gewicht ca.: 27 g (0.06 Pfund)
Land: Sonstige Normen
Kategorie: Technische Normen JIS