JIS C5630-2:2009

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 2: Tensile testing method of thin film materials

NORM herausgegeben am 20.3.2009

Japanisch -
Elektronische PDF (AUF ANFRAGE)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: JIS C5630-2:2009
Ausgabedatum normen: 20.3.2009
Zahl der Seiten: 10
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Sonstige Normen
Kategorie: Technische Normen JIS