JIS C5630-26:2017

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures

NORM herausgegeben am 20.10.2017

Japanisch -
Elektronische PDF (AUF ANFRAGE)

Japanisch -

Gedruckt (AUF ANFRAGE)

The information about the standard:

Designation standards: JIS C5630-26:2017
Publication date standards: 20.10.2017
The number of pages: 24
Approximate weight : 72 g (0.16 lbs)
Country: Other standards
Kategorie: Technische Normen JIS