JIS H0613:1978

Visual inspection for sliced and lapped silicon wafers

NORM herausgegeben am 5.1.1978

Japanisch -
Elektronische PDF (AUF ANFRAGE)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: JIS H0613:1978
Ausgabedatum normen: 5.1.1978
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Sonstige Normen
Kategorie: Technische Normen JIS