JIS K0143:2023

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials

NORM herausgegeben am 20.2.2023

Japanisch -
Elektronische PDF (AUF ANFRAGE)

Japanisch -

Gedruckt (AUF ANFRAGE)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: JIS K0143:2023
Ausgabedatum normen: 20.2.2023
Zahl der Seiten: 22
Gewicht ca.: 66 g (0.15 Pfund)
Land: Sonstige Normen
Kategorie: Technische Normen JIS