JIS K0190:2010

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

NORM herausgegeben am 20.4.2010

Japanisch -
Elektronische PDF (AUF ANFRAGE)

Japanisch -

Gedruckt (AUF ANFRAGE)

The information about the standard:

Designation standards: JIS K0190:2010
Publication date standards: 20.4.2010
The number of pages: 12
Approximate weight : 36 g (0.08 lbs)
Country: Other standards
Kategorie: Technische Normen JIS