JIS R1636:1998

Test method for thickness of fine ceramic thin films -- Film thickness by contact probe profilometer

NORM herausgegeben am 31.1.1998

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: JIS R1636:1998
Ausgabedatum normen: 31.1.1998
Zahl der Seiten: 6
Gewicht ca.: 18 g (0.04 Pfund)
Land: Sonstige Normen
Kategorie: Technische Normen JIS