
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods
NORM herausgegeben am 1.8.2001
Bezeichnung normen: STN EN 60749
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 18009
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.8.2001
Zahl der Seiten: 52
Gewicht ca.: 156 g (0.34 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN