
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General
NORM herausgegeben am 1.1.2004
Bezeichnung normen: STN EN 60749-1
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 92827
Ausgabedatum normen: 1.1.2004
Zahl der Seiten: 11
Gewicht ca.: 33 g (0.07 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN