Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 2: Low air pressure
NORM herausgegeben am 1.2.2003
Bezeichnung normen: STN EN 60749-2
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 89303
Ausgabedatum normen: 1.2.2003
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN