STN EN 60749-20 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat

NORM herausgegeben am 1.1.2004

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: STN EN 60749-20
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 92829
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.1.2004
Zahl der Seiten: 27
Gewicht ca.: 81 g (0.18 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN