Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 23: High temperature operating life
NORM herausgegeben am 1.10.2004
Bezeichnung normen: STN EN 60749-23
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 96505
Ausgabedatum normen: 1.10.2004
Zahl der Seiten: 29
Gewicht ca.: 87 g (0.19 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN