NORMSERVIS s.r.o.

STN EN 60749-29 (358799)

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 29: Latch-up test

NORM herausgegeben am 1.7.2004

Gedruckt (AUF ANFRAGE)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: STN EN 60749-29
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 95695
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.7.2004
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN