
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
NORM herausgegeben am 1.10.2017
Bezeichnung normen: STN EN 60749-3
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 125483
Ausgabedatum normen: 1.10.2017
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN