STN EN 60749-33 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave

NORM herausgegeben am 1.10.2004

Englisch -
Gedruckt (AUF ANFRAGE)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: STN EN 60749-33
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 96500
Ausgabedatum normen: 1.10.2004
Zahl der Seiten: 15
Gewicht ca.: 45 g (0.10 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN