Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
NORM herausgegeben am 1.6.2007
Bezeichnung normen: STN EN 60749-35
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 103750
Ausgabedatum normen: 1.6.2007
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN