STN EN 60749-37 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer

NORM herausgegeben am 1.11.2008

Englisch -
Gedruckt (AUF ANFRAGE)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: STN EN 60749-37
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 107047
Ausgabedatum normen: 1.11.2008
Zahl der Seiten: 23
Gewicht ca.: 69 g (0.15 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN