STN EN 60749-38 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory

NORM herausgegeben am 1.1.2009

Englisch -
Gedruckt (AUF ANFRAGE)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: STN EN 60749-38
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 107323
Ausgabedatum normen: 1.1.2009
Zahl der Seiten: 17
Gewicht ca.: 51 g (0.11 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN