STN EN 60749-4 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

NORM herausgegeben am 1.10.2017

Englisch -
Gedruckt (AUF ANFRAGE)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: STN EN 60749-4
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 125484
Ausgabedatum normen: 1.10.2017
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN