STN EN 60749-4 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

NORM herausgegeben am 1.2.2003

Gedruckt (AUF ANFRAGE)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: STN EN 60749-4
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 89305
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.2.2003
Zahl der Seiten: 27
Gewicht ca.: 81 g (0.18 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN