STN EN 60749-43 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans

NORM herausgegeben am 1.1.2018

Englisch -
Gedruckt (AUF ANFRAGE)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: STN EN 60749-43
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 125810
Ausgabedatum normen: 1.1.2018
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN