STN EN 60749-44 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices

NORM herausgegeben am 1.4.2017

Englisch -
Gedruckt (AUF ANFRAGE)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: STN EN 60749-44
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 124507
Ausgabedatum normen: 1.4.2017
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN