Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films
NORM herausgegeben am 1.8.2011
Bezeichnung normen: STN EN 62047-8
Zeichen: 358792
Katalog-Nummer: 113687
Ausgabedatum normen: 1.8.2011
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN