STN EN 62374 (358794)

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films

NORM herausgegeben am 1.7.2008

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: STN EN 62374
Zeichen: 358794
Katalog-Nummer: 106193
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.7.2008
Zahl der Seiten: 26
Gewicht ca.: 78 g (0.17 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN