Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 23: High temperature operating life
NORM herausgegeben am 1.6.2011
Bezeichnung normen: STN EN 60749-23:2004/A1
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 113338
Anmerkung: Änderung
Ausgabedatum normen: 1.6.2011
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN