Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 3: External visual examination
NORM herausgegeben am 1.2.2003
Bezeichnung normen: STN EN 60749-3
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 89304
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.2.2003
Zahl der Seiten: 2
Gewicht ca.: 6 g (0.01 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN