STN EN 60749-5 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

NORM herausgegeben am 1.10.2003

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: STN EN 60749-5
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 91656
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.10.2003
Zahl der Seiten: 9
Gewicht ca.: 27 g (0.06 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN