STN EN IEC 60749-28 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

NORM herausgegeben am 1.7.2022

Englisch -
Gedruckt (AUF ANFRAGE)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: STN EN IEC 60749-28
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 135117
Ausgabedatum normen: 1.7.2022
Gewicht ca.: 51 g (0.11 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN