STN EN IEC 60749-30 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

NORM herausgegeben am 1.1.2021

Englisch -
Gedruckt (AUF ANFRAGE)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: STN EN IEC 60749-30
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 132098
Ausgabedatum normen: 1.1.2021
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN