STN EN IEC 60749-34-1 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module

NORM herausgegeben am 1.11.2025

Englisch -
Gedruckt (AUF ANFRAGE)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: STN EN IEC 60749-34-1
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 141257
Ausgabedatum normen: 1.11.2025
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN