Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans -- Part 4: Early failure assessment (IEC 47/2917/CDV) (english version)
NORM herausgegeben am 1.7.2025
Bezeichnung normen: E ÖVE EN IEC 63287-4
Ausgabedatum normen: 1.7.2025
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Österreichische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ÖNORM