ISO 6342:2003-ed.2.0

Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area

NORM herausgegeben am 15.7.2003

Englisch -
Elektronische PDF (55.40 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ISO 6342:2003-ed.2.0
Ausgabedatum normen: 15.7.2003
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen ISO

Die Annotation des Normtextes ISO 6342:2003-ed.2.0 :

Description / Abstract: ISO 6342:2003 specifies a method of measuring the thickness of the buildup area on aperture cards (camera and copy cards) for manufacturing and inspection purposes.