Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method (( IEC 63185:2025) EN IEC 63185:2025) (german version)
NORM herausgegeben am 1.9.2026
Bezeichnung normen: ÖVE EN IEC 63185
Ausgabedatum normen: 1.9.2026
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Österreichische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ÖNORM
Dieses Dokument bezieht sich auf ein Messverfahren für die komplexe Permittivität von dielektrischen Substraten bei Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen. Dieses Verfahren wurde entwickelt, um die dielektrischen Eigenschaften verlustarmer Werkstoffe zu bewerten, die in Mikrowellen- und Millimeterwellenschaltungen und -geräten verwendet werden. Es verwendet Moden höherer Ordnung eines symmetrischen Kreisscheibenresonators und ermöglicht die breitbandige Vermessung dielektrischer Substrate mit Hilfe eines einzigen Resonators, wobei die Wirkung von Anregungsöffnungen und Randfeldern auf der Grundlage der Modenanpassungsanalyse (en: mode-matching analysis) akkurat berücksichtigt wird.