Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Determination of thickness of ceramic films by contact-probe profilometer (ISO 18452:2005)
NORM herausgegeben am 1.11.2016
Bezeichnung normen: ÖNORM EN ISO 18452
Ausgabedatum normen: 1.11.2016
Zahl der Seiten: 15
Gewicht ca.: 45 g (0.10 Pfund)
Land: Österreichische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ÖNORM
Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Bestimmung der Schichtdicke feinkeramischer Schichten und keramischer Schichten mit einem Kontaktprofilometer fest. Das Verfahren ist für Schichtdicken im Bereich von 10 nm bis 10 000 nm geeignet.