Metallic coatings - Measurement of coating thickness - Scanning electron microscope method (ISO 9220:2022)
NORM herausgegeben am 1.6.2022
Bezeichnung normen: ÖNORM EN ISO 9220
Ausgabedatum normen: 1.6.2022
Zahl der Seiten: 19
Gewicht ca.: 57 g (0.13 Pfund)
Land: Österreichische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ÖNORM
Dieses Dokument legt ein zerstörendes Verfahren zur Messung der örtlichen Schichtdicke metallischer und anderer anorganischer Überzüge fest, in dem Querschnitte mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) untersucht werden. Das Verfahren ist für Schichtdicken bis zu mehreren Millimetern anwendbar, allerdings ist es für solch dicke Schichten üblicherweise praktischer, ein Lichtmikroskop (siehe ISO 1463) zu verwenden. Die untere Dickengrenze hängt von der erreichten Messunsicherheit ab.