SAE J1752/2

Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits—Surface Scan Method (Loop Probe Method) 10 MHz to 3 GHz

NORM herausgegeben am 1.6.2011

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: SAE J1752/2
Anmerkung: Nicht mehr aktuell
Ausgabedatum normen: 1.6.2011
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen SAE