Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV) (Endorsed by AENOR in March of 2011.)
NORM herausgegeben am 1.1.2016
Bezeichnung normen: UNE-EN 15991:2011
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.1.2016
Zahl der Seiten: 29
Gewicht ca.: 87 g (0.19 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE