UNE-EN 60749-14:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)

NORM herausgegeben am 11.6.2004

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The information about the standard:

Designation standards: UNE-EN 60749-14:2004
Publication date standards: 11.6.2004
The number of pages: 35
Approximate weight : 105 g (0.23 lbs)
Country: Spanish technical standard
Kategorie: Technische Normen UNE