UNE-EN 60749-16:2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 16: Particle impact noise detection (PIND)

NORM herausgegeben am 21.11.2003

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Gedruckt (51.70 EUR)

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-16:2003
Ausgabedatum normen: 21.11.2003
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE