UNE-EN 60749-2:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 2: Low air pressure.

NORM herausgegeben am 30.5.2003

Englisch -
Elektronische PDF (40.20 EUR)

Englisch -

Gedruckt (44.20 EUR)

Spanisch -

Elektronische PDF (40.20 EUR)

Spanisch -

Gedruckt (44.20 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-2:2003
Ausgabedatum normen: 30.5.2003
Zahl der Seiten: 19
Gewicht ca.: 57 g (0.13 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE