Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
NORM herausgegeben am 15.11.2000
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749:2000
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 15.11.2000
Zahl der Seiten: 114
Gewicht ca.: 373 g (0.82 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE