Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Endorsed by AENOR in January of 2013.)
NORM herausgegeben am 1.1.2013
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012
Anmerkung: Änderung
Ausgabedatum normen: 1.1.2013
Zahl der Seiten: 11
Gewicht ca.: 33 g (0.07 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE