Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in August of 2017.)
NORM herausgegeben am 6.4.2025
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-28:2017
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 6.4.2025
Zahl der Seiten: 52
Gewicht ca.: 156 g (0.34 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE