NORMSERVIS s.r.o.

UNE-EN 60749-29:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 29: Latch-up test

NORM herausgegeben am 9.7.2004

Spanisch -
Elektronische PDF (67.60 EUR)
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Gedruckt (74.40 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-29:2004
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 9.7.2004
Zahl der Seiten: 22
Gewicht ca.: 66 g (0.15 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE