UNE-EN 60749-3:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

NORM herausgegeben am 30.5.2003

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-3:2003
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 30.5.2003
Zahl der Seiten: 14
Gewicht ca.: 42 g (0.09 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE