UNE-EN 60749-3:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

NORM herausgegeben am 30.5.2003

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The information about the standard:

Designation standards: UNE-EN 60749-3:2003
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 30.5.2003
The number of pages: 14
Approximate weight : 42 g (0.09 lbs)
Country: Spanish technical standard
Kategorie: Technische Normen UNE