UNE-EN 60749-33:2005

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave

NORM herausgegeben am 16.3.2005

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-33:2005
Ausgabedatum normen: 16.3.2005
Zahl der Seiten: 17
Gewicht ca.: 51 g (0.11 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE