UNE-EN 60749-33:2005

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave

NORM herausgegeben am 16.3.2005

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The information about the standard:

Designation standards: UNE-EN 60749-33:2005
Publication date standards: 16.3.2005
The number of pages: 17
Approximate weight : 51 g (0.11 lbs)
Country: Spanish technical standard
Kategorie: Technische Normen UNE