UNE-EN 60749-40:2011

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (Endorsed by AENOR in November of 2011.)

NORM herausgegeben am 1.11.2011

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-40:2011
Ausgabedatum normen: 1.11.2011
Zahl der Seiten: 26
Gewicht ca.: 78 g (0.17 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE