Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (Endorsed by AENOR in December of 2016.)
NORM herausgegeben am 1.12.2016
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-44:2016
Ausgabedatum normen: 1.12.2016
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE