UNE-EN 60749-5:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

NORM herausgegeben am 21.11.2003

Englisch -
Elektronische PDF (50.00 EUR)

Englisch -

Gedruckt (55.00 EUR)

Spanisch -

Elektronische PDF (50.00 EUR)

Spanisch -

Gedruckt (55.00 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-5:2003
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 21.11.2003
Zahl der Seiten: 21
Gewicht ca.: 63 g (0.14 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE