UNE-EN 60749-5:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

NORM herausgegeben am 21.11.2003

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The information about the standard:

Designation standards: UNE-EN 60749-5:2003
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 21.11.2003
The number of pages: 21
Approximate weight : 63 g (0.14 lbs)
Country: Spanish technical standard
Kategorie: Technische Normen UNE