Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in August of 2017.)
NORM herausgegeben am 1.8.2017
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-5:2017
Ausgabedatum normen: 1.8.2017
Zahl der Seiten: 19
Gewicht ca.: 57 g (0.13 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE